SMART-EXAM：被験者の厚生を考慮した連続多段階ランダム割付試験 - 経済産業研究所

執筆者, Xinru WANG（デューク・シンガポール国立大学）／Nina DELIU（ケンブリッジ大学 / ローマ・サピエンツァ大学）／成田 悠輔（客員研究員）／Bibhas関連キーワードはありません